第三代
半導(dǎo)體測(cè)試家族
Third generation semiconductor testing family
分類
聯(lián)動(dòng)科技成功參展SEMICON CHINA 2021
Semicon China 2021在上海新國際展覽中心順利舉行。
公司展示了半導(dǎo)體IC測(cè)試系統(tǒng)、分立器件測(cè)試系統(tǒng)和激光打標(biāo)機(jī)系統(tǒng)的最新產(chǎn)品，包括：混合信號(hào)IC測(cè)試系統(tǒng)QT-8100、QT-8200；分立器件測(cè)試系統(tǒng)、SIC IGBT開關(guān)測(cè)試機(jī)、IGBT模塊測(cè)試、氮化鎵動(dòng)態(tài)RDON測(cè)試等；全自動(dòng)IC打標(biāo)檢測(cè)系統(tǒng)等先進(jìn)設(shè)備。
1000A 6KV模塊測(cè)試模組
QT-8100HP大功率模擬IC測(cè)試系統(tǒng)
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