第三代
半導(dǎo)體測試家族
Third generation semiconductor testing family
分類
歡迎蒞臨SEMICON China 2015 聯(lián)動展位
2015年3月17-19日，聯(lián)動科技在為期三天的面向全球半導(dǎo)體同行的旗艦展會SEMICON上，向新老客戶展示了公司目前在半導(dǎo)體測試系統(tǒng)，半導(dǎo)體激光打標(biāo)設(shè)備，視像檢測系統(tǒng)類的最新產(chǎn)品，包括QT-8100模擬數(shù)字混合信號IC測試系統(tǒng)，QT-6106C測試模組，雪崩測試模組，RG/QG測試模組，獨立熱阻測試模組以及FIBER 脈沖分體式雙頭打標(biāo)設(shè)備和光纖分體式視像定位打標(biāo)設(shè)備。
|
中國廣東省佛山市南海國家高新區(qū)新光源產(chǎn)業(yè)基地光明大道16號 |
|
0757 83207313 (銷售) |
|
0757 83208786 (銷售) |
|
info@powertechsemi.com |
佛山市聯(lián)動科技股份有限公司 版權(quán)所有 powertechsemi.com ? 2015 | 隱私政策 | Sitemap 粵ICP備17127080號-1
