第三代
半導(dǎo)體測試家族
Third generation semiconductor testing family
分類
Prober
適用於6、8″Si、SiC分立元件、功率元件、積體電路、射頻元件、光晶片等晶圓的自動探針測試。 自動上下片，Wafer ID讀取。 全自動CCD視覺對針定位。 高精度定位平臺。 支援常高溫測試。 即時產(chǎn)生Mapping顯示Bin。 通用GPIB、TTL、R-232介面。
|
懸浮電源 |
多Site並行 |
多通道高精度 |
支援多種擴展 |
| 型號 | Prober |
| 產(chǎn)品介紹 |
適用於6、8″Si、SiC分立元件、功率元件、積體電路、射頻元件、光晶片等晶圓的自動探針測試。
自動上下片，Wafer ID讀取。 |
| 功能 |
? 全自動CCD視覺對針定位。 ? 高精度定位平臺。 ? 支援常高溫測試。 ? 即時產(chǎn)生Mapping顯示Bin。 ? 通用GPIB、TTL、R-232介面。 |
Recommend推薦產(chǎn)品
|
中國廣東省佛山市南海國家高新區(qū)新光源產(chǎn)業(yè)基地光明大道16號 |
|
0757 83207313 (銷售) |
|
0757 83208786 (銷售) |
|
info@powertechsemi.com |
佛山市聯(lián)動科技股份有限公司 版權(quán)所有 powertechsemi.com ? 2015 | 隱私政策 | Sitemap 粵ICP備17127080號-1
