第三代
半導(dǎo)體測(cè)試家族
Third generation semiconductor testing family
分類
QT-3104 QG 閘極電荷測(cè)試
QT-3104 QG滿足SiC裝置微小QG值測(cè)試
|
支援雙DIE |
過(guò)載欠壓保護(hù) |
高精度測(cè)試 |
支援?dāng)U充 |
| 型號(hào) | QT-3104 QG |
| 產(chǎn)品優(yōu)勢(shì) | 滿足SiC裝置微小QG值測(cè)試 |
| 主要特點(diǎn) | ? 測(cè)試能力:200A/150V 150A/1000V |
Recommend推薦產(chǎn)品
|
中國(guó)廣東省佛山市南海國(guó)家高新區(qū)新光源產(chǎn)業(yè)基地光明大道16號(hào) |
|
0757 83207313 (銷售) |
|
0757 83208786 (銷售) |
|
info@powertechsemi.com |
佛山市聯(lián)動(dòng)科技股份有限公司 版權(quán)所有 powertechsemi.com ? 2015 | 隱私政策 | Sitemap 粵ICP備17127080號(hào)-1
